本文標題:什么是金相試樣截取截面的方法
信息分類:站內新聞 新聞來源：未知 發布時間：2015-7-9 9:44:19
什么是金相試樣截取截面的方法
通常情況下我們所說的金相試樣截取截則是采用一
個合適的方法，這樣做可以避免在物體樣品標本在
切割的過程中因切割不當而引起樣品標本顯微組織
結構的變化。
因此我們需要注意這種顯微組織結構變化的原因材
料是什么，這可能是金相顯微組織發生變化，還可
能是低熔點的金屬。
對于引起金屬金相試樣截取截面的顯微表面組織的
變化，特別需要注意是低熔點的金屬。
這是由于它們在切割的過程中晶體顆粒結晶溫度太
低，這就需要我們根據不同的材料選擇不同的方法
進行金相試樣截取截。
將本頁加入收藏
下一篇：物體樣品標本的采集的基本要求是什么
上一篇：細菌在培養過程的特征是什么
本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://m.liujunyi.com/xinwen/1688.html
工業顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
