本文標(biāo)題:顯微鏡顯微觀察時的反射率的測定過程
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-4-24 15:46:42
顯微鏡顯微觀察時的反射率的測定過程
用光電法測定反射率時，被測面積必須磨光得象理想鏡
面不能有麻點(diǎn)。
測定時光片應(yīng)該是新磨的儲存時間光片在測定重新拋光
，至少也須清洗測畢立即放盒防止落上灰塵。
為便于比較礦相學(xué)對每種礦物至少測實(shí)驗(yàn)室對微米四種
波長的反射率因此應(yīng)盡可能用這四種單色光測定。
在使用值大于干燥物鏡或大于油浸物鏡測定時，垂直照
明器上的孔徑光圈應(yīng)適當(dāng)縮小，以使投射到光片上的光
為嚴(yán)格垂直入射光。
將本頁加入收藏
下一篇：金相分析中的金相學(xué)中的定量分析
上一篇：落射式熒光顯微鏡中的光路系統(tǒng)
本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://m.liujunyi.com/xinwen/1536.html
工業(yè)顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
