本文標題:透射電子顯微鏡光學配合的不同

透射電子顯微鏡光學配合的不同

透射電子顯微鏡光學配合于顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究于實際實
現有非常大的不同，制造顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究于會使用自
定義的顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究于鏡頭配置。

比如顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究于球面像差補償系統或者顯微鏡
進行觀察分析檢測測量研究于利用能量濾波來修正電子的色差。

透射電子顯微鏡經過物鏡的顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究于會聚調
焦和初級放大后，電子束進入顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究于下級
的中間透鏡和顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究于影鏡進行綜合放大成
像。

透射電子顯微鏡最終被放大了的顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究于電
子影像投射在觀察室內的熒光屏板上顯微鏡進行觀察分析檢測測量研究。

將本頁加入收藏

下一篇：透射電子顯微鏡活動光闌 　　　　　 上一篇：透射電子顯微鏡主要結構和原理成像方式

本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://m.liujunyi.com/xinwen/1102.html 　
工業顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業的供應商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科